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高密度电阻率法二维成像技术及其在工程勘查中的应用
被引:14
作者
:
汤洪志
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机构:
东华理工学院探测与信息技术系
汤洪志
刘庆成
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机构:
东华理工学院探测与信息技术系
刘庆成
龚育龄
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机构:
东华理工学院探测与信息技术系
龚育龄
机构
:
[1]
东华理工学院探测与信息技术系
[2]
东华理工学院探测与信息技术系 江西抚州
[3]
江西抚州
来源
:
工程勘察
|
2003年
/ 05期
关键词
:
高密度电阻率法;
电阻率成像;
阵列电探系统;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TU195 [勘探技术];
学科分类号
:
0814 ;
摘要
:
利用二维电阻率成像测量技术可以重构地下介质的精确结构。高密度电阻率法可以看作是一种特殊、方便、实用的层析成像测量方法 ,由此获得的分辨率比常规电阻率法所进行的各种解释都高得多。本文就高密度电率法成像技术的理论与方法进行了粗浅探讨 ,并以几个应用实例说明了该技术的有效性和实用性。
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页码:62 / 64
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;
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