光栅投影三维轮廓测量及关键技术分析

被引：19

作者：

牛小兵

林玉池

赵美蓉

程冬梅

蒋诚志

机构：

[1] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室

[2] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津

[3] 天津

来源：

光电子·激光 | 2002年 / 09期

关键词：

三维轮廓测量; 光栅投影; 相位测量; 叠相还原; 配准拼接; 标定;

D O I：

10.16136/j.joel.2002.09.030

中图分类号：

TN247 [光检测技术];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

说明了光栅投影三维测量技术的原理 ;就国内外的研究和应用状况 ,对三维测量中的关键技术 ,如相位测量、解相位、数据配准和拼接、系统结构的调整和标定等进行了分析综述

引用

页码：983 / 986

页数：4

共 8 条

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