用ATR方法研究液晶表面光学性质

被引：1

作者：

王炳奎，贺黎明，李国梅，包于诗，王权，夏明思

机构：

[1] 华东理工大学物理系，华东理工大学化学系

来源：

基金：

上海市自然科学基金;

关键词：

衰减全反射方法，液晶;

D O I：

10.14016/j.cnki.jgzz.1996.03.012

中图分类号：

O753.2 [];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

本文用衰减全反射方法（ＡＴＲ）研究液晶在基片表面上的性质，测试在外电场作用下液晶分子重新定向引起光学性质的变化。液晶薄层的光学常数和厚度用ＡＴＲ曲线拟合计算。

引用

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