共 1 条
[1]
Error Analysis Techniques for Planar Near -Field Measurements. Allen C Newell. IEEE Trans . 1988
天线/RCS近场测量系统的研究
被引：2
作者：
张士选，郑会利，尚军平
机构：
[1] 西安电子科技大学
来源：
关键词：
近场测量；天线；采样；收发系统；精度;
D O I：
10.13443/j.cjors.1999.01.016
中图分类号：
TN82 [天线];
学科分类号：
080904 ;
摘要：
给出了由ＨＰ８５３０Ｂ组成的天线／ＲＣＳ近场测量系统的有关技术指标。利用该系统对典型天线进行了分析测量。结果表明，所研制的近场系统可提供各种天线的精确测量结果。
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