制备条件对Ni（OH）2微晶结构参数的影响

被引：13

作者：

王超群

任小华

蒋文全

周辉

贺万宁

机构：

[1] 北京有色金属研究总院!北京

[2] 长沙矿冶院!长沙

来源：

中国有色金属学报 | 1999年 / 03期

关键词：

氢氧化镍; 微晶结构参数; 各向异性谱线宽化; 电化学活性; 利用率;

D O I：

10.19476/j.ysxb.1004.0609.1999.03.011

中图分类号：

TG319 [有色金属锻造];

学科分类号：

080201 ; 080503 ;

摘要：

用化学共沉淀法在可控ｐＨ值、添加剂和加氨水等条件下由ＮｉＳＯ４和ＮａＯＨ反应结晶制备了氢氧化镍粉末。高性能的球形氢氧化镍颗粒系由带微孔的微晶组成的，其Ｘ射线谱线呈各向异性宽化，其中（ｈ０ｌ）型谱线宽化最为严重。各向异性谱线宽化的性质与氢氧化镍中微晶结构特性有关（尤其是整个材料中存在着堆垛层错平面缺陷）。通过Ｘ射线衍射测量的微晶结构参数如微晶粒度、晶格常数ａ与ｃ轴的大小以及（１００）、（００１）谱线强度等，可以用于建立其与制备工艺和电化学活性之间的关系。一般在较低的结晶度和（１００）谱线强度下以及较大的ｃ轴下可以获得较好的电化学活性

引用

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