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压敏电压径向分布对ZnO电阻片闪络特性的影响
被引：3
作者：
李盛涛，李博，刘辅宜
机构：
[1] 西安交通大学电气绝缘研究所，电力部电力科学研究统成压所
来源：
关键词：
闪络特性；压敏电压；压成；无机高阻层;
D O I：
10.16188/j.isa.1003-8337.1996.06.009
中图分类号：
TM862 [过电压保护装置];
学科分类号：
080803 ;
摘要：
通过沿径向制作点电极，并测试压敏电压径向分布，表明普通试样的压敏电压沿径向呈下降分布，它与晶粒尺寸沿径向分布对应。通过调整压成方式和侧面无机高阻层配方，改变压敏电压径向分布，能够提高沿面问络电压和电流，其中缓慢压成以及施以反应型高阻层的试样的闪络电压和电流大。闪络电压和电流与压敏电压径向分布特征值Ｖ９／Ｖ０呈线性上升关系。
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