烧结法与熔渗法铜铬触头微观组织差异及对电性能的影响

被引:6
作者
傅肃嘉
机构
[1] 浙江省冶金研究院浙江杭州
关键词
铜铬触头材料; 熔渗法; 烧结法; 微观结构; 影响;
D O I
10.13296/j.1001-1609.hva.2003.04.018
中图分类号
TM503.5 [];
学科分类号
摘要
评述了熔渗法和混粉烧结法两种工艺制备的CuC触头的微观结构差异及对其电开断性能的影响。与熔渗法相比,烧结法制备的CuCr触头具有更好的抗熔焊性能、更低的截流值和更好的吸放气性能,但因其机械强度较低,耐压性能可能不如熔渗法触头。对两种工艺提出了改进的建议。
引用
收藏
页码:52 / 55
页数:4
相关论文
共 1 条
[1]  
InfluenceofCompositionandCrPaticleSizeofCu/CrContactsonChoppingCurrent,ContactResistance,andBreakdownVoltageinVacuumInterrupters. RiederWFetal. IEEETrans.onCPMT . 1989