避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述

被引:7
作者
杨建生
徐元斌
李红
机构
[1] 甘肃天水永红器材厂
[2] 甘肃天水永红器材厂 甘肃 天水
[3] 甘肃 天水
关键词
球栅阵列封装; 裂纹; 芯片; 有限单元分析; 倒装片; 断裂力学; 设计工艺  ;
D O I
暂无
中图分类号
TN305.94 [封装及散热问题];
学科分类号
080508 [光电信息材料与器件];
摘要
介绍了把断裂力学法应用于倒装片BGA的设计方法。概述了一些关键的材料特性和封装尺寸对倒装片BGA芯片裂纹的影响作用,从而断定基板厚度和芯片厚度是倒装片BGA芯片发生裂纹的两个最重要的因素.
引用
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共 1 条
[1]
应力—应变场数值模拟在微组装焊点中的应用 [J].
马鑫 ;
钱乙余 ;
刘发 .
电子工艺技术, 2001, (02) :51-55