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避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
被引:7
作者
:
杨建生
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机构:
甘肃天水永红器材厂
杨建生
徐元斌
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机构:
甘肃天水永红器材厂
徐元斌
李红
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机构:
甘肃天水永红器材厂
李红
机构
:
[1]
甘肃天水永红器材厂
[2]
甘肃天水永红器材厂 甘肃 天水
[3]
甘肃 天水
来源
:
电子产品可靠性与环境试验
|
2002年
/ 01期
关键词
:
球栅阵列封装;
裂纹;
芯片;
有限单元分析;
倒装片;
断裂力学;
设计工艺 ;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN305.94 [封装及散热问题];
学科分类号
:
080508
[光电信息材料与器件]
;
摘要
:
介绍了把断裂力学法应用于倒装片BGA的设计方法。概述了一些关键的材料特性和封装尺寸对倒装片BGA芯片裂纹的影响作用,从而断定基板厚度和芯片厚度是倒装片BGA芯片发生裂纹的两个最重要的因素.
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应力—应变场数值模拟在微组装焊点中的应用
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马鑫
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