基于多目标遗传优化的容差电路故障屏蔽诊断

被引：7

作者：

彭敏放 ^{[1
]}

何怡刚 ^{[1
]}

沈美娥 ^{[2
]}

贺建飚 ^{[3
]}

机构：

[1] 湖南大学电气与信息工程学院

[2] 北京信息工程学院计算机科学与工程系

[3] 中南大学信息科学与工程学院

来源：

电工技术学报 | 2006年 / 03期

基金：

湖南省自然科学基金;

关键词：

故障诊断; 遗传算法; 多目标优化; 故障屏蔽; 模拟电路;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2006.03.019

中图分类号：

TN707 [测试、检验];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

将多目标遗传优化算法与故障屏蔽原理相结合,提出了一种新的容差模拟电路故障屏蔽诊断方法。通过分析计算故障与容差效应对端口特征量的影响,建立了模拟电路具容差情况下的故障屏蔽模型,创建了目标函数与相应的适应值函数,用以搜索能极大限度屏蔽故障支路的最优激励,根据最优激励的Pareto解集及所提隶属度函数来实现故障定位。模拟试验结果表明:所提方法避免了故障效应与容差效应的相互交叠,故障定位准确率高。

引用

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