DDR1&2&3信号完整性测试分析技术探析

被引：8

作者：

孙灯亮

机构：

[1] 安捷伦科技

来源：

国外电子测量技术 | 2006年 / 09期

关键词：

DDR1&2&3; 完整性测试; 命令总线; 技术探析;

D O I：

10.19652/j.cnki.femt.2006.09.032

中图分类号：

TP333 [存贮器];

学科分类号：

081201 ;

摘要：

<正>1 DDR 1&2&3总线概览DDR全名为Double Data Rate SDRAM,简称为DDR。DDR技术已经发展到了DDR 3,理论上速度可以支持到1600MT/s。DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难,给测试和分析带来了巨大的挑战。DDR本质上不需要提高时钟频率就能加倍提

引用

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