基于边界采样的插值Catmull-Clark细分曲面造型

被引：3

作者：

梁伟文

戴珏

机构：

[1] 深圳职业技术学院先进制造技术工程系

[2] 深圳职业技术学院先进制造技术工程系广东深圳

[3] 广东深圳

来源：

机电工程 | 2005年 / 03期

关键词：

细分曲面; Catmull-Clark细分; 边界采样; 插值;

D O I：

暂无

中图分类号：

TB113 [几何的应用];

学科分类号：

0701 ; 070104 ;

摘要：

提出了基于边界采样的插值CatmullClark细分曲面造型方法。首先简单介绍了CatmullClark细分规则;为了满足插值边界要求,提出了一种边界采样技术;最后介绍了插值CatmullClark细分方法,并通过实例验证了该方法的有效性和可行性。该方法对丰富细分曲面造型技术,推广其曲面造型中的应用起到一定作用。

引用

页码：48 / 50

页数：3