消除CMOS读出电路噪声方法研究

被引：9

作者：

沈晓燕

机构：

[1] 南通大学电子信息学院江苏南通

来源：

关键词：

KTC噪声; 读出电路; 相关双取样; 红外焦平面阵列;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN432 [场效应型];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

对红外焦平面阵列CMOS读出电路中几种常见的噪声及其抑制技术进行了分析和讨论,重点研究了消除读出电路噪声的新方法———双复位法。该方法克服了以往相关双取样的缺点,没有增加电路功耗和硅集成电路的复杂程度,只要电容参数选择合理,理论上能完全消除KTC噪声,而且对1/f噪声也起到抑制作用。

引用

页码：659 / 661

页数：3

共 4 条

[1] CMOS读出电路中的噪声及抑制 [J].

刘成康 ;

袁祥辉 ;

张晓飞 .

[2] 凝视热成像系统的噪声分析 [J].

顾文韵 ;

皮德富 ;

房红兵 .

[3] 线列红外焦平面中几种相关采样法分析 [J].

房骏 ;

李言谨 ;

陈新禹 ;

方家熊 .

[4] 使用CMOS读出装置的红外焦平面阵列 [J].

程开富 .