光模块加速寿命试验最佳测试温度的确定方法

被引：3

作者：

顾益双 ^{[1
]}

舒勤 ^{[1
]}

姜振超 ^{[2
]}

黄宏光 ^{[1
]}

机构：

[1] 四川大学电气信息学院

[2] 四川电力科学研究院

来源：

半导体光电 | 2014年 / 03期

关键词：

小型可热拔插式光模块; 加速因子; 阿伦尼斯模型; 驱动电流-温度曲线; 最佳测试温度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN929.11 [光纤通信];

学科分类号：

080301 [光电信息工程];

摘要：

为了确定小型可热插拔式(SFP)光模块寿命试验所需的最短时间,提出了基于加速因子最大化的最佳测试温度的确定方法。首先,利用阿伦尼斯模型证明了温度的选择不会改变寿命预测结果,并讨论了加速因子取极大值的条件。然后利用步进温度实验获得的驱动电流随测试温度变化的曲线给出了最佳测试温度的确定方法。最后,计算分析表明由于驱动电流受温度的影响,在最佳测试温度下进行光模块寿命试验仍然很困难。

引用

页码：406 / 410

页数：5

共 6 条

[1]

加速寿命试验评估功率发光二极管平均寿命 [J].

黄杰 ;

高金环 ;

张瑞霞 ;

高兆丰 ;

徐立生 .

半导体光电, 2009, 30 (05) :684-686

[2]

加速寿命试验中多应力加速模型综述 [J].

李晓阳 ;

姜同敏 .

系统工程与电子技术, 2007, (05) :828-831

[3]

最优化理论与方法[M] 黄平; 主编清华大学出版社 2008,

[4]

加速寿命试验及其统计分析[M] 张志华著; 北京工业大学出版社 2002,

[5]

通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求[S] 武汉邮电科学研究院中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局;中国国家标准化管理委员会 2007,

[6]

Step-stress life-testing with random stress-change times for exponential data Xiong; Chengjie;Milliken; George A; IEEE Transactions on Reliability 1999,

← 1 →