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继电器触头接触可靠性预测方法的研究
被引:7
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李奎
陆俭国
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
河北工业大学
陆俭国
张冠生
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
河北工业大学
张冠生
机构
:
[1]
河北工业大学
[2]
福州大学
来源
:
电工技术学报
|
1999年
/ 02期
关键词
:
接触电阻,评价,接触可靠性;
D O I
:
10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.1999.02.013
中图分类号
:
TM581.5 [交流继电器];
学科分类号
:
摘要
:
提出一种新的接触电阻测量方法———脉冲电流(矩形脉冲宽度300μs)法来测量接触电阻。该方法对洁净触头的接触电阻测量值与常规法所测值一致,而对有腊或有污染颗粒的触头接触电阻测量又有不同影响。采用该方法可以区分触头表面污染状态,并根据接触电阻的变化规律及其变化值的大小评价触头接触可靠性。
引用
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页码:55 / 59
页数:5
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