一种双端测距算法的伪根问题与改进

双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响,得到了广泛的关注。但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中,原理上存在伪根的可能性,在某些情况下,会得到错误的测距结果,因此需要对该测距算法进行改进。该文首先对产生伪根的原因进行了深入地分析,并在此基础上,对原算法进行了改进,提出了判别伪根的原则,使其更具通用性,并利用EMTP程序仿真验证了改进后的测距算法。