利用FPGA实现红外焦平面器件的非均匀性校正

与红外单元器件系统相比 ,焦平面面阵探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性 ,尽管现在面阵探测器的非均匀性有了很大改进 ,但是非均匀性仍然限制凝视红外系统的探测性能。实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术 ,尽管现在已经有很多种基于场景的非均匀性校正方法 ,但是两点校正算法仍然是基础的校正方法 ,有不可替代的价值。两点校正算法的流程简单固定 ,非常适合用FPGA实现。文章介绍了利用FPGA硬件实现焦平面探测器非均匀性的两点校正算法 ,实验达到了预期效果 ,同时也显示了该算法的一些不足之处。