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放射性同位素X射线荧光分析[M]. 原子能出版社 , 张家骅等 编著, 1981
用于轻便X荧光分析仪的等效模型校正法
被引：3
作者：
周四春
章晔
机构：
[1] 成都地质学院
来源：
关键词：
轻便X荧光分析仪;
地质样品;
吸收效应;
等效模型校正法;
现场测量;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文提出了一种适合于基体效应主要为吸收效应,并采用闪烁或正比计数器探头的携带式X荧光仪的散射校正模式,且建立了一种新的校正法——“等效模型”法。用该法在某些Sb、Sn、Cu、Zn矿区测量,得到了良好的结果。
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页数：6
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