通用红外测试系统的精度分析

被引：3

作者：

李颖文

潘德彬

刘爱东

刘建东

王群

罗艳

机构：

[1] 华中光电技术研究所

来源：

红外与激光工程 | 2006年 / S5期

关键词：

红外; 焦平面; 热像仪; 测试; 噪声等效温差; 精度分析;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

采用美国 PI、Santa Barbara 红外和 Lumitron 的红外测试设备,进行系统集成,构建成了通用的红外测试系统。它既能完成1024×1024元以下任意像元数的中波红外和长波红外焦平面阵列性能参数的测试,又能完成中波红外和长波红外热像仪系统级性能参数的测试,具有很好的适用性及技术的先进性。中波红外热像仪的测试结果 NETD=15.8 mK,与 CEDIP 的结果15.13 mK 相差0.67 mK。测试精度为±1.49 mK。长波制冷红外焦平面阵列探测器的测试结果 NETD 为26.47 mK,与 Sofradir 的结果24.43 mK 相差2.04 mK,测试精度为±1.63 mK。

引用

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