线阵CCD在高精度测径系统中的应用附视频

被引:26
作者
马登极
朱善安
王长军
机构
[1] 浙江大学电气学院
关键词
线阵CCD; 测径光学系统; 边缘点;
D O I
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2006.02.014
中图分类号
TP274.4 [];
学科分类号
摘要
针对工业中用千分尺人工对工件直径测量的落后方法,文章设计了一套利用线阵CCD对直径实现精密测量的系统;该系统基于光学系统无接触性测量的基本原理,运用光学测量的理论和一般方法,设计并讨论了在实际运用中存在的问题及解决办法;实践证明,该系统运行稳定可靠,测量精度达到了微米级,可以用于实际的直径测量。
引用
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页码:175 / 176+185 +185
页数:3
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共 5 条
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