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线阵CCD在高精度测径系统中的应用附视频
被引:26
作者
:
马登极
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江大学电气学院
马登极
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
朱善安
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王长军
机构
:
[1]
浙江大学电气学院
来源
:
计算机测量与控制
|
2006年
/ 02期
关键词
:
线阵CCD;
测径光学系统;
边缘点;
D O I
:
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2006.02.014
中图分类号
:
TP274.4 [];
学科分类号
:
摘要
:
针对工业中用千分尺人工对工件直径测量的落后方法,文章设计了一套利用线阵CCD对直径实现精密测量的系统;该系统基于光学系统无接触性测量的基本原理,运用光学测量的理论和一般方法,设计并讨论了在实际运用中存在的问题及解决办法;实践证明,该系统运行稳定可靠,测量精度达到了微米级,可以用于实际的直径测量。
引用
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页码:175 / 176+185 +185
页数:3
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[J].
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