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化学反应在发射光谱分析上的应用(Ⅱ)——同时测定岩石中W、Mo等十一个痕量元素附视频
被引:9
作者
:
陈寿根
论文数:
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0
机构:
冶金部地质研究所
陈寿根
蔡志贞
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机构:
冶金部地质研究所
蔡志贞
刘进琦
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机构:
冶金部地质研究所
刘进琦
陈斌斌
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机构:
冶金部地质研究所
陈斌斌
机构
:
[1]
冶金部地质研究所
[2]
广西雅脉钢铁厂
来源
:
分析试验室
|
1983年
/ 03期
关键词
:
发射光谱分析;
直流电弧光源;
谱线黑度;
痕量元素;
微量元素;
反应剂;
化学反应;
待测元素;
同时测定;
岩石;
Mo;
D O I
:
10.13595/j.cnki.issn1000-0720.1983.0072
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 在发射光谱分析中应用化学反应的方法,能改善分析检出限和分析精度,在纯物质中杂质元素分析和矿物原料中痕量元素分析方面得到了相当多的应用。对反应机理、反应条件和反应剂的选择等方面作了一定的研究。在矿物原料分析中,常用的化学反应有氯化反应、碘化反应、氟化反应和硫化反应。其中以氯化反应最为有效,应用也较为广泛。本文报导了利用CuCl、NH4Cl为反应剂,同时测定岩石土壤中W、Sn、Mo.Pb、Bi、Cd、Ga、Ge、In、Tl、Zn等十一个痕量元素的试验结果。1.反应剂混合物的选择
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