近衍射极限半导体激光束波面检测

被引：4

作者：

刘宏展

刘立人

徐荣伟

栾竹

滕树云

机构：

[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室

来源：

中国激光 | 2005年 / 04期

关键词：

光通信; 双剪切干涉仪; 发散度; 衍射极限;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN365 [半导体激光器件];

学科分类号：

摘要：

在星间半导体激光通信系统中,如何检测发射光束波面的质量是个较难处理的问题,为了较好地解决这一问题,在简单介绍白光横向双剪切干涉仪的基础上,报道了用此干涉仪对近衍射极限半导体激光光束波面的检测,在此基础上推导出计算远场发散度的公式。实验测得近场光束的波高差为0.2λ,通过夫朗和费衍射求得光束的发散度仅为64.8μrad,这表明光束接近光学衍射极限。同时,表明双剪切干涉仪灵敏度高、实用性好。

引用

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