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玉米抗倒性与茎秆显微结构的关系
被引:43
作者
:
王立新
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京市农林科学院作物所
王立新
郭强
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机构:
北京市农林科学院作物所
郭强
苏青
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机构:
北京市农林科学院作物所
苏青
机构
:
[1]
北京市农林科学院作物所
[2]
北京市农林科学院作物所 北京
[3]
北京
来源
:
植物学通报
|
1990年
/ 03期
关键词
:
玉米;
抗倒性;
显微结构;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
1989年我们对抗倒性不同的12个杂交玉米进行了解剖观察,发现地面上第三节间的茎外围维管束的长宽、维管束下部厚壁细胞的厚度、皮层厚度与田间倒伏率呈现显著的负相关,同一视野内维管束数目与倒伏率呈显著正相关。
引用
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页码:34 / 36
页数:3
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