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确保更精确的高电阻测量
被引：3
作者：
Dale Cigoy
机构：
[1] 吉时利仪器公司
来源：
关键词：
电阻测量;
集中参数测量;
接触电阻;
静电计;
安培计;
伏特计;
电压表;
电压系数;
欧姆计;
电流源;
恒流;
漏电流;
静电干扰;
D O I：
10.19652/j.cnki.femt.2010.08.002
中图分类号：
TM934.1 [电阻测量及仪器];
学科分类号：
摘要：
<正>0引言高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分,包括印制电路板的表面电阻(SIR)测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等。确保高电阻测量(即高于1G?[109欧姆]的电阻)的精度需要使用大量的特殊技术和仪器,例如静电计、源测量单元(SMU)、或皮可安培计/电压源组合。静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻。
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