两种Cp的诊断理论

被引：2

作者：

孙静

张公绪

机构：

[1] 清华大学经济管理学院

[2] 北京科技大学管理科学研究所

来源：

中国质量 | 2000年 / 04期

关键词：

能力指数; Cp; 质量特性值; 质量数据; 指数计算; 分布中心; 关键工序; 诊断理论; 偏离度; 弥散度; 单侧; 两种;

D O I：

10.16434/j.cnki.zgzl.2000.04.008

中图分类号：

F273.2 [产品管理];

学科分类号：

摘要：

<正> 我们知道现有的质量概念包含如图1所示内容: 正是由于其中上道工序对下道工序的影响(简称上影)这一部分使得上下道工序分不清质量责任。为此提出两种质量的新概念,即 1.分质量:是指该道工序固有的加工质量,这是个新概念,但却是客观存在的。显然,分质量与上影无关。 2.总质量:即现有的质量,它不是新概念,这里加个总字,不过是强调它包括分质量与上影两部分,从而与所有上道工序都有关。

引用

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