二氧化硅/聚酰亚胺纳米杂化薄膜室温及低温力学性能

被引：18

作者：

李艳

付绍云

林大杰

张以河

潘勤彦

机构：

[1] 中国科学院理化技术研究所

[2] 中国科学院理化技术研究所北京中国科学院研究生院

[3] 北京

[4] 北京中国科学院研究生院

来源：

复合材料学报 | 2005年 / 02期

关键词：

聚酰亚胺; 溶胶凝胶法; 力学性能;

D O I：

10.13801/j.cnki.fhclxb.2005.02.003

中图分类号：

TB332 [非金属复合材料];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

利用溶胶凝胶技术制备了不同SiO2 含量的二氧化硅/聚酰亚胺(SiO2/PI)纳米杂化薄膜。采用红外光谱(IR)和扫描电镜(SEM)手段对该体系的分子结构和断裂形貌进行了表征, 研究了聚酰亚胺薄膜室温和低温(77K)力学性能。结果表明: 室温和低温(77 K)下, SiO2/PI杂化薄膜的拉伸强度开始时均随SiO2 含量的增加而增加, 在含量为3%时达到最大值, 低温下杂化薄膜的拉伸强度明显高于室温。室温下, 杂化薄膜的断裂伸长率在含量为3%时达到最大值, 而低温(77 K)下, 薄膜的断裂伸长率的变化没有呈现明显的规律性。

引用

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