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PZT铁电薄膜的制备及电学性能研究
被引:7
作者
:
王培英,刘梅冬,曾亦可,饶韫华,何恩培
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华中理工大学固体电子学系
王培英,刘梅冬,曾亦可,饶韫华,何恩培
机构
:
[1]
华中理工大学固体电子学系
来源
:
压电与声光
|
1996年
/ 02期
关键词
:
疲劳,老化,PZT膜,反转周期;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN384 [铁电及压电器件];
学科分类号
:
0805 ;
080501 ;
080502 ;
080903 ;
摘要
:
使用硝酸锆作锆源的溶胶-凝胶方法制备PZT铁电薄膜。他们的电学性能被测试包括电滞回线,电流I(t)特性,漏电流,矫顽场疲劳和老化。测到的PZT薄膜剩余极化8.2μC/cm2,矫顽场68kV/cm.簿膜的寿命可超过1011周期。
引用
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页码:109 / 113
页数:5
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