晶体的半波电压消光比测试及微机管理系统

被引：1

作者：

陈春荣

王学荣

机构：

[1] 长春光学精密机械学院材料与化工分院

[2] 长春光学精密机械学院材料与化工分院吉林长春

[3] 吉林长春

来源：

关键词：

电光快门; 半波电压; 消光比;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

本文介绍了用在电光快门的调制晶体的有关参数，如半波电压、消光比的测试系统，以及利用实验室现有条件对此系统进行微机管理的软硬件结构。

引用

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