发射光谱法测定金属钴中的16个元素

被引：3

作者：

施平

机构：

[1] 广州有色金属研究院!广州

来源：

关键词：

发射光谱分析; 金属钴; 杂质元素;

D O I：

10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2000.0099

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

金属钴经化学预处理后 ,其基体和杂质元素均转化为氧化物 ,用发射光谱法测定其中 1 6个杂质元素 ,该方法的测定范围可基本满足国标 GB6 51 7- 86中对一号钴与三号钴的分析要求 ,方法的相对标准偏差为 6 .89%～ 1 8.2 4 %。 ( n=1 3)

引用

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