用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨

被引：4

作者：

陶家生

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春　

来源：

关键词：

CCD成像; 像质; 分辨力;

D O I：

10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2003.01.030

中图分类号：

TN386.5 [电荷耦合器件];

学科分类号：

摘要：

通过对CCD探测器成像过程的模拟,分析了CCD成像在像元几何尺寸及成像灰度方面的数字离散化特征对CCD成像分辨力的影响,给出了CCD成像分辨力与CCD像元分辨力的关系,同时也给出了在相应情况下的调制度传递函数(MTF)的数值。

引用

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