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聚合物电老化击穿临界状态的实验验证
被引:15
作者:
王新生
屠德民
杨会中
机构:
[1] 西安交通大学
来源:
关键词:
聚合物;
电老化;
击穿临界状态;
D O I:
10.13334/j.0258-8013.pcsee.1993.s1.001
中图分类号:
学科分类号:
摘要:
本文通过实验发现在较大的电压范围内,在双对数坐标上,聚丙烯薄膜试样的寿命曲线、剩余击穿场强和表面电位增量与老化时间的关系都是折线,并相互对应,验证了陷阱在击穿过程中的决定性作用和寿命公式中的幂指数随电场强度范围的不同而变化的结论,试样的击穿均发生在陷阱密度达到一定值时,与电老化电压高低无关。因此陷阱密度可作为衡量聚合物电老化程度的一个特性参数。
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