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降低半导体器件失效率的有效措施
被引:1
作者
:
金雷
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
安徽省六安市总厂技术中心
金雷
金阳
论文数:
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引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽省六安市总厂技术中心
金阳
机构
:
[1]
安徽省六安市总厂技术中心
[2]
安徽省铜陵市三佳集团公司研究所 安徽六安
[3]
安徽铜陵
来源
:
电子元件与材料
|
2002年
/ 03期
关键词
:
半导体器件;
失效率;
有效措施;
D O I
:
10.14106/j.cnki.1001-2028.2002.03.013
中图分类号
:
TN06 [测试技术及设备];
学科分类号
:
080901 ;
摘要
:
要提高电子产品的可靠性水平,必须加强对元器件的质量管理。本文系统地介绍了采用优选生产厂家、高温贮存、功率老化、质量信息反馈、改善检测手段等方法来降低半导体器件的失效率,提高整机的可靠性。实践证明,这些措施简单有效。
引用
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页码:30 / 31+34 +34
页数:3
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[1]
模拟电子技术基础.[M].童诗白 主编;清华大学电子学教研组 编.高等教育出版社.1988,
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