基于微机的边界扫描测试主控系统的设计

被引：11

作者：

张华

陈朝阳

沈绪榜

机构：

[1] 华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制教育部重点开放实验室

来源：

华中科技大学学报(自然科学版) | 2002年 / 05期

关键词：

边界扫描测试; JTAG主控器; 集成电路测试; PCI; CPLD;

D O I：

10.13245/j.hust.2002.05.008

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

分析了边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求 ,提出了一种基于微机PCI总线的低成本边界扫描测试主控系统的硬件设计方案 .该系统以PC机为平台 ,以用CPLD器件实现的JTAG主控器生成满足IEEE114 9.1协议的边界扫描测试信号 ,并用普通的SRAM实现存储器共享 .仿真表明 ,该系统产生的测试信号完全满足IEEE114 9.1协议的时序要求 ,可用于IC或PCB的边界扫描测试 ,以及进行边界扫描测试的研究和实验 .

引用

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