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工业测控系统的发展趋势
被引：16
作者：
魏晓龙
机构：
[1] 北京康拓工业电脑公司
来源：
关键词：
工业测控系统;
AD;
芯片;
CPU;
计算机;
STD;
功耗;
组态软件;
光电隔离;
双口存储器;
可编程放大器;
总线;
光电耦合器件;
D O I：
10.16157/j.issn.0258-7998.1995.05.018
中图分类号：
TP273.5 [];
学科分类号：
080201 ;
0835 ;
摘要：
<正>随着计算机硬件、软件技术的迅速发展及集成电路技术的日益提高,工业测控系统已取得了巨大的进步,并成为计算机技术应用领域中最具活力的一个分支.在我国,工业测控系统的发展方兴未艾.新技术、新工艺不断地向传统的技术与工艺挑战.用计算机测控系统取代老式的测控仪表,用现代的控制算法取代经典的控制算法,用灵敏、节能的新型智能传感器取代老式的变送器,已成为工矿企业及科研院所设计与改造工业测控系统重点考虑的问题.
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