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[1]
The use of parallel imaging ESCA to analyse features smaller than 5 microns.[J].N. M. Forsyth;P. Coxon.Fresenius' Journal of Analytical Chemistry.1993, 1
[2]
X射线光电子能谱的应用介绍
被引：104
作者：
文美兰
机构：
[1] 东南大学物理系
来源：
关键词：
XPS;
化学态;
化学位移;
D O I：
暂无
中图分类号：
O657.62 [能谱分析];
学科分类号：
070302 [分析化学];
摘要：
X射线光电子能谱(XPS)是较常用的表面分析技术之一,不仅能测定材料表面的组成元素,而且还能给出各元素的化学状态信息,在很多领域都有广泛用途。本文主要通过一些具体例子介绍X射线光电子能谱在表面元素的定性和定量分析方面的应用。
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