尘埃粒子的半导体激光散射测量

被引：25

作者：

黄惠杰

赵永凯

任冰强

程兆谷

杜龙龙

路敦武

机构：

[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所

[2] 中国科学院上海光学精密机械研究所上海

[3] 上海

来源：

中国激光 | 2002年 / 12期

关键词：

光散射; 粒子尺寸测量; 粒子浓度测量;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN247 [光检测技术];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

以半导体激光为光源 ,建立了一个可以实时测量空气中尘埃粒子的尺寸与颗粒数浓度的光学系统。根据Mie散射理论 ,计算了该光学系统的光散射响应特性。实验结果表明 ,该系统具有高的计数准确度、计数效率和计数重复性 ,适用于洁净度检测和环境空气中尘埃粒子的粒径分布测量。

引用

页码：1117 / 1121

页数：5

共 8 条

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