软硬件测试的一致性

被引:8
作者
刘穆进
徐拾义
机构
[1] 上海大学计算机工程与科学学院
关键词
内建自测试技术; 软件测试; 硬件测试; 可测性设计;
D O I
暂无
中图分类号
TP311.56 [];
学科分类号
摘要
讨论了软硬件测试的一致性 ,列举了软硬件测试中相似的测试方法 ,最后基于一致性的概念并借助硬件可测性设计BIST(build -in -self-test)技术提出一种新的软件可测性方法 ,称为BISTSDFT(softwaredesign -for-testability) .BISTSDFT为软件开发人员和测试人员提供了信息交流的桥梁 .
引用
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相关论文
共 2 条
[1]  
Partial scan flip-flop selection by use of empirical testability[J] . Kee S. Kim,Charles R. Kime.Journal of Electronic Testing . 1995 (1)
[2]  
Program slices: Formal, psychological, and practical investigation of an automatic program abstraction method. Weiser M. . 1979