印刷电路板瑕疵检测与分类算法

被引：8

作者：

陈晓辉

刘晓军

机构：

[1] 华中科技大学机械科学与工程学院

来源：

华中科技大学学报(自然科学版) | 2010年 / 38卷 / 07期

关键词：

自动光学检测; 印刷电路板; 参考图像; 被测图像; 特征样式; 连通分量影响区域;

D O I：

10.13245/j.hust.2010.07.017

中图分类号：

TN41 [印刷电路];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

提出了一种通过比较参考图像与被测图像的特征样式来检测印刷电路板(PCB)瑕疵的自动光学检测(AOI)算法.通过连通分量分析等数字图像处理表面形态学的基本方法,提取出参考图像的连通分量,即参考图像的特征样式.提出了一种连通分量影响区域的概念,用于提取出被测图像中与参考图像特征样式对应的特征样式.通过比对被测图像与参考图像的特征样式,实现断路、短路、局部短路,电路漏印、针孔、缺孔、脱孔等典型PCB瑕疵的快速辨识和检出.结果表明:该算法不需要将参考图像与被测图像进行严格的对准,允许图像有一定量的变形,能够应用于各种PCB的检测.

引用

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