从晶体衍射峰形的变化看应力梯度对X射线应力分析的影响

被引:1
作者
徐可为
何家文
机构
[1] 西安交通大学金属材料及强度研究所,西安交通大学金属材料及强度研究所
关键词
X射线; 残余应力; 应力梯度;
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
通常应力分析大都忽略X射线在晶体中的透入深度及其随方向角Ψ的变化,因此有衍射角2θ与sin2Ψ的直线关系成立。本文分析了沿深度各点衍射峰强度和位置的变化对实际衍射峰形的影响,证明应力可使衍射峰倾斜,呈现不对称分布,实测峰位置是透入深度内各点衍射峰的加权平均值,在此基础上考察了应力梯度对X射线应力分析的影响。发现正应力梯度使2θ-sin2Ψ曲线上凹,负应力梯度使曲线下凹。与最大有效透入深度内应力的加权平均值比较,按2θ-sin2Ψ线性回归得到的应力值正梯度时偏高,负梯度时偏低。与该深度内的应力最大值比较,即使2θ-sin2Ψ关系无明显弯曲,当应力梯度较大时,按线性回归也可能引入较大误差。
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共 1 条
[1]   用X射线分层测量磨削后零件表面残余应力的探讨 [J].
顾永清 .
上海交通大学学报, 1981, (03) :97-106