ICP-AES在高纯稀土氧化物分析中应用的研究Ⅶ——ICAP9000多道光谱仪用于15个稀土杂质元素同时测定的评价

被引：10

作者：

马锦秋

陈新坤

檀金宗

机构：

[1] 南开大学测试计算中心

[2] 南开大学化学系

来源：

光谱学与光谱分析 | 1986年 / 05期

关键词：

稀土杂质; 检出限; 高纯稀土氧化物; ICP-AES; 稀土基体; 同时测定;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正> 前言ICP光量计（多道光谱仪）在高纯稀土氧化物分析中的应用的报导还较少,本文将在以前摄谱分析法工作的基础上,对ICAP9000型多道光谱仪的稀土通道用于La2O3、CeO2、Pr6O11、Nd2O3、Sm2O3、Y2O3等高纯稀土氧化物或它们的杂质富集物中15个稀土杂质元素同时测定的能力（主要是校正光谱干扰效应的能力及对各稀土杂质元素的检出能力）进行评价。

引用

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