利用基因芯片技术检测结核分支杆菌耐利福平分离株rpoB基因突变的研究

被引：6

作者：

梁莉

乐军

李瑶

肖和平

王洪海

机构：

[1] 上海市肺科医院

[2] 复旦大学生命科学学院

来源：

中华医院感染学杂志 | 2005年 / 08期

关键词：

基因芯片; 结核; 结核分支杆菌; 利福平; 分子药敏试验;

D O I：

暂无

中图分类号：

R378 [病原细菌];

学科分类号：

摘要：

目的利用基因芯片技术对我国结核分支杆菌耐利福平(RFP)分离株rpoB基因突变进行研究,建立大规模快速检测结核分支杆菌耐药基因型的基因芯片分子药敏试验方法。方法利用寡核苷酸基因芯片技术分析19株结核分支杆菌临床分离株的rpoB基因突变,并经PCR-直接测序法(PCR-DS)验证,以结核分支杆菌H37Rv标准株为对照。结果7株结核分支杆菌药物敏感株芯片检测和PCR-DS分析均未见rpoB突变,12株RFP耐药株中,1株芯片检测和PCR-DS分析均未见rpoB突变;11株rpoB基因有突变,其中5株为531位TCG→TTG或TGG突变,5株为526位CAC→TAC或GAC或CGC突变,531位和526位突变占耐药菌株rpoB突变的83.3%,其余为502、505、506、507、516、518、522、538位突变;芯片检测和PCR-DS分析结果符合率达100%。结论大多数结核分支杆菌耐RFP是由于rpoB基因突变所致,采用基因芯片技术可以快速、准确、大规模地确定结核分支杆菌RFP耐药突变的部位和性质,是一种有前途的结核分支杆菌分子药敏试验方法。

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