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土霉素的电化学还原和吸附溶出伏安法测定研究
被引:6
作者
:
韦桂珍
论文数:
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引用数:
0
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机构:
中国科技大学,中国科学院生态环境中心,澳大利亚Deakin大学合肥,,北京,,Vic
韦桂珍
陆宗鹏
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中国科技大学,中国科学院生态环境中心,澳大利亚Deakin大学合肥,,北京,,Vic
陆宗鹏
AlanM.Bond
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机构:
中国科技大学,中国科学院生态环境中心,澳大利亚Deakin大学合肥,,北京,,Vic
AlanM.Bond
机构
:
[1]
中国科技大学,中国科学院生态环境中心,澳大利亚Deakin大学合肥,,北京,,Vic
来源
:
分析化学
|
1989年
/ 12期
关键词
:
吸附溶出伏安法;
土霉素;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文叙述吸附溶出分析土霉素的灵敏方法。土霉素及其质子化形态能在汞电极表面吸附富集(-0.60V vsAg/AgCl),溶出峰的数目及电位受pH影响。在pH4—8的溶液中得到4个溶出峰,而在强酸性和碱性介质中仅得到一个主峰。文中讨论了有关的化学和电极反应机理。采用奥氏方波溶出,电解富集5 min的测定限为5×10-10mol/L。
引用
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页码:1072 / 1076
页数:5
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