不同上升时间快前沿电磁脉冲引起PN结失效、烧毁的二维数值模拟

被引：8

作者：

郭红霞

周辉

陈雨生

张义门

龚仁喜

关颖

韩福斌

龚建成

机构：

[1] 西北核技术研究所

[2] 西安电子科技大学

[3] 西安电子科技大学西安

[4] 西安

来源：

关键词：

电磁脉冲(EMP)器件模拟; 漂移扩散模型; 结热二次击穿;

D O I：

10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2002.03.005

中图分类号：

TN606 [测试、调整及设备];

学科分类号：

080903 ;

摘要：

利用半导体器件二维模拟软件数值模拟计算了不同上升时间的快前沿电磁脉冲对PN结的毁坏过程,对计算结果作了分析,得到了一维器件模拟无法得到的电流通道等其他二维效应,详细地给出了器件正常工作、失效直至烧毁的全过程。

引用

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