共 1 条
[1]
超灵敏加速器质谱计测定32Si样品制备新技术
被引：1
作者：
刘存富
王佩仪
周炼
机构：
[1] 中国地质大学
来源：
关键词：
32Si加速器质谱计(AMS);
D O I：
暂无
中图分类号：
TL817.4 [];
学科分类号：
摘要：
介绍了制备元素硅的一种化学方法。它可用于ＡＭＳ装置的离子源。含硅的物质溶解在ＨＦ中，用ＬｉＡｌＨ４把ＳｉＦ４还原成ＳｉＨ４，再将ＳｉＨ４加热分解成元素硅，并且沉淀在石墨盘上。用ＡＭＳ测定ｗ３２Ｓｉ／ｗＳｉ总比值，其灵敏度可达１０－１３。
引用
收藏
页数：5
相关论文