X荧光现场取样技术在大红山铜矿的应用

被引：6

作者：

庹先国

任家富

郭海

吴彦峰

赵高举

韩繁国

查寿才

张德

机构：

[1] 中国地质大学

[2] 成都理工大学

[3] 四川先达核测控设备有限公司

[4] 云南易门矿务局大红山铜矿

来源：

金属矿山 | 2003年 / 10期

关键词：

铜矿; 便携式X射线萤光分析仪; 品位快速测量;

D O I：

暂无

中图分类号：

TD862.1 [];

学科分类号：

摘要：

介绍了利用自行研制的便携式X射线荧光分析仪在大红山铜矿井下用X荧光取样分析代替人工打点取样分析 ,现场原位测量岩壁Cu、Fe品位的应用情况。采用的仪器是由2 3 8Pu同位素源、正比计数管、多道脉冲幅度分析器、便携微机系统等组成的能量色散型分析仪 ,具有自动稳谱功能。研究结果表明 :X荧光取样的原矿品位与化学分析结果相比 ,Cu相对误差在 10 %以内的合格率达到 95 % ,Fe相对误差在 5 %以内的合格率为 90 % ,完全能满足矿山生产的要求

引用

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