多周期同步测量法在微位移检测中的应用

被引：4

作者：

洪志刚 ^{[1
]}

杜维玲 ^{[1
]}

马慧明 ^{[2
]}

机构：

[1] 中山职业技术学院电子信息工程系

[2] 中北大学信息与通信工程学院

来源：

中北大学学报(自然科学版) | 2008年 / 29卷 / 06期

关键词：

多周期同步测量法; 位移检测; 电感式位移传感器; 单片机;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM935 [频率、波形参数的测量及仪表];

学科分类号：

080402 [测试计量技术及仪器];

摘要：

由于目前微位移检测系统的测量精度受到A/D的限制,为进一步提高测量精度,讨论了多周期同步测量法在微位移检测中的应用,并设计了基于单片机控制的微位移检测电路.实际应用表明,在对实时性没有严格要求的情况下,当检测量程为±2 mm时,系统检测精度可达0.1μm,并且通过提高计数频率,系统可以达到更高的测量精度.

引用

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