耐电晕PI薄膜及其耐电晕寿命评定方法的研究

本文主要研究适合变频电机使用的改性聚酸亚胺的耐电晕性能，采用逐级升压击穿法评定耐电晕寿命。首先测试了由杜邦公司提供的FCR薄膜的耐电晕性能，所得结果与杜邦公司提供的数据吻合得很好；对杜邦KaptonCR薄膜和几种自制薄膜进行了耐电晕测试，并将两次测试结果作了对比和分析。证明所采用的测试方法是简便可靠的，CK6、CK2和B10—2型薄膜具有接近FCR膜的耐电晕性能。