独立模式算法求解颗粒粒径分布的研究

被引：28

作者：

徐峰

蔡小舒

苏明旭

赵志军

李俊峰

机构：

[1] 上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所

来源：

关键词：

应用光学; 光散射; 颗粒测量; 反演算法; 独立模式;

D O I：

暂无

中图分类号：

O439 [应用光学];

学科分类号：

摘要：

光散射法测粒技术中常常会碰到反问题 (inverseproblem) ,即对多分散的颗粒两相介质 ,通过测得的多个角度或不同波长下的光信号 ,求解第一类Fredholm积分方程。从理论和实验两方面出发 ,改进了Twomey算法在前向散射和消光法测粒技术中的应用 ,获得合理的颗粒粒径分布结果

引用

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