晶体管非工作期失效率预计

被引：5

作者：

杨家铿

翁寿松

机构：

[1] 中国电子产品可靠性与环境试验研究所，无锡市无线电元件四厂

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TN320.1 [];

学科分类号：

摘要：

本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作期失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合．通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作期失效率，尤其给出了我国晶体管普通库房贮存失效率和贮存有效期．

引用

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