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利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法
被引:21
作者
:
王庆有
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0
机构:
天津大学精密仪器与光电子工程学院
王庆有
于涓汇
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机构:
天津大学精密仪器与光电子工程学院
于涓汇
郭青
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天津大学精密仪器与光电子工程学院
郭青
张盛彬
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机构:
天津大学精密仪器与光电子工程学院
张盛彬
机构
:
[1]
天津大学精密仪器与光电子工程学院
来源
:
光电工程
|
2002年
/ 04期
关键词
:
非接触测量;
线阵CCD;
应力测量;
变形测量;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH87 [材料试验机与试验仪器];
学科分类号
:
摘要
:
用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线。采用CCD拼接技术,测量精度可达到1mm,测量范围80mm。
引用
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页数:4
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