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聚光系统对显微物镜杂光测量影响的分析与实验
被引:2
作者
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刘瑞祥
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刘瑞祥
王海明
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王海明
机构
:
来源
:
光学机械
|
1987年
/ 02期
关键词
:
显微物镜;
数值孔径;
杂光;
弱光;
聚光系统;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
显微物镜通常采用部分相干照明,测量它的杂光时,有必要研究照明系统的影响。实验表明,对于中、低倍物镜来说,当照明系统的数值孔径变化时,物面相干性变化对显微物镜杂光测量的影响可以忽略,从而可以采用积分球面扩展光源去测量它们的杂光系数。文中对相关的问题进行了分析讨论。
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